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Closed-Loop CMOS Stresskartierungssystem mit 4-Bit einstellbarer Sensitivität basierend auf 32 FET Stresssensoren
Publikationstyp
Conference Paper
Publikationsdatum
2021-11
Sprache
English
Author
Allinger, Kim
Start Page
688
End Page
690
Citation
Mikroelektronik, Mikrosystemtechnik und ihre Anwendungen - Innovative Produkte für zukunftsfahige Markte - MikroSystemTechnik Congress (2021)
Scopus ID