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dc.contributor.authorPetrov, Alexander-
dc.contributor.authorChirumamilla, Manohar-
dc.contributor.authorVaidhyanathan, Gnanavel-
dc.contributor.authorKnopp, Katrin-
dc.contributor.authorKrekeler, Tobias-
dc.contributor.authorGraf, Matthias-
dc.contributor.authorJalas, Dirk-
dc.contributor.authorRitter, Martin-
dc.contributor.authorStörmer, Michael-
dc.contributor.authorEich, Manfred-
dc.date.accessioned2019-07-17T09:12:06Z-
dc.date.available2019-07-17T09:12:06Z-
dc.date.issued2019-05-
dc.identifier.citationOptics InfoBase Conference Papers (Part F128-CLEO_QELS 2019): (2019-05)de_DE
dc.identifier.isbn978-155752820-9de_DE
dc.identifier.isbn978-194358057-6de_DE
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11420/2957-
dc.description.abstractWe investigate spectrally selective high temperature stable metamaterial emitters for thermophotovoltaics. We demonstrate band-edge emitters based on a W-HfO2 multilayer metamaterial stable up to 1400°C. Conditions for improved selectivity and thermal stability are discussed.en
dc.language.isoende_DE
dc.relation.ispartofOptics InfoBase Conference Papersde_DE
dc.titleHigh temperature optical metamaterialsde_DE
dc.typeinProceedingsde_DE
dc.type.dinicontributionToPeriodical-
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tuhh.abstract.englishWe investigate spectrally selective high temperature stable metamaterial emitters for thermophotovoltaics. We demonstrate band-edge emitters based on a W-HfO2 multilayer metamaterial stable up to 1400°C. Conditions for improved selectivity and thermal stability are discussed.de_DE
tuhh.publisher.doi10.1364/CLEO_QELS.2019.FTu4D.3-
tuhh.publication.instituteBetriebseinheit Elektronenmikroskopie M-26de_DE
tuhh.publication.instituteOptische und Elektronische Materialien E-12de_DE
tuhh.type.opusInProceedings (Aufsatz / Paper einer Konferenz etc.)-
tuhh.institute.germanBetriebseinheit Elektronenmikroskopie M-26de
tuhh.institute.englishBetriebseinheit Elektronenmikroskopie M-26de_DE
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dc.type.casraiConference Paper-
dc.relation.conference2019 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2019de_DE
dc.relation.projectSFB 986: Zentralprojekt Z3 - Elektronenmikroskopie an multiskaligen Materialsystemen-
item.fulltextNo Fulltext-
item.openairecristypehttp://purl.org/coar/resource_type/c_5794-
item.creatorOrcidPetrov, Alexander-
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item.creatorGNDPetrov, Alexander-
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crisitem.project.funderDeutsche Forschungsgemeinschaft (DFG)-
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crisitem.author.deptOptische und Elektronische Materialien E-12-
crisitem.author.deptOptische und Elektronische Materialien E-12-
crisitem.author.deptOptische und Elektronische Materialien E-12-
crisitem.author.deptBetriebseinheit Elektronenmikroskopie M-26-
crisitem.author.deptWerkstoffphysik und -technologie M-22-
crisitem.author.deptOptische und Elektronische Materialien E-12-
crisitem.author.deptBetriebseinheit Elektronenmikroskopie M-26-
crisitem.author.deptOptische und Elektronische Materialien E-12-
crisitem.author.orcid0000-0002-9213-9645-
crisitem.author.orcid0000-0002-6812-286X-
crisitem.author.orcid0000-0002-4353-7858-
crisitem.author.orcid0000-0002-2065-0014-
crisitem.author.orcid0000-0003-2589-2765-
crisitem.author.orcid0000-0002-5664-859X-
crisitem.author.orcid0000-0002-9031-9642-
crisitem.author.orcid0000-0002-3096-5693-
crisitem.author.parentorgStudiendekanat Elektrotechnik, Informatik und Mathematik-
crisitem.author.parentorgStudiendekanat Elektrotechnik, Informatik und Mathematik-
crisitem.author.parentorgStudiendekanat Elektrotechnik, Informatik und Mathematik-
crisitem.author.parentorgStudiendekanat Maschinenbau-
crisitem.author.parentorgStudiendekanat Maschinenbau-
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crisitem.author.parentorgStudiendekanat Elektrotechnik, Informatik und Mathematik-
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