2023-06-252023-06-25https://tore.tuhh.de/handle/11420/15926Die Herstellung von multiskaligen Materialsystemen ist ein Schwerpunkt des SFB 986. Ein weiterer Schwerpunkt beinhaltet die Analyse und Charakterisierung der neu gewonnenen Materialsysteme, u. a. mittels Raster- (SEM) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Aufgabe und Ziel des Serviceprojektes Z3 ist es, den einzelnen Teilprojekten des SFB klassische Probenpräparationsmethoden sowie moderne Probenpräparation mittels Focused Ion Beam (FIB) für die Elektronenmikroskopie zentral zur Verfügung zu stellen. Mit Hilfe der vorhandenen Probenpräparationsmöglichkeiten und Mikroskope können Struktur und chemische Beschaffenheit der multiskaligen Systeme im mittleren bis hohen Vergrößerungsbereich effizient analysiert und charakterisiert werden. Insgesamt sollen die dadurch gewonnen Erkenntnisse als Grundlage dienen, um die im SFB verwendeten Materialien zu charakterisieren, um Herstellungsverfahren und -parameter zu beurteilen, und auch um weiterführende, komplexere Untersuchungen, z.B. mit höchstauflösender Transmissionselektronenmikroskopie (HRTEM), Streumethoden oder Mikrotomographie durchzuführen.The production of multi-scale materials systems is one focus of the SFB 986. Another focus lies in the analysis and characterization of the newly acquired materials via scanning and transmission electron microscopy(SEM/TEM). The task and the purpose of the service project Z3 is to provide classic sample preparation methods as well as modern sample preparation by a focused ion beam(FIB) for electron microscopy. Using the existing sample preparation methods and microscopes, the structure and chemical nature of multi-scale materials can be efficiently analyzed and characterized at middle and high magnification. The findings will serve as a basis for characterizing the materials used in SFB, for assessing production methods and production parameters, and furthermore for conducting more complex investigations, e.g., by high resolution transmission electrons microscopes(HRTEM), scattering method, or micro-tomography.