2024-11-072024-11-07https://hdl.handle.net/11420/50381Konzentrationsbestimmungen im SpurenelementbereichInduktiv gekoppeltes Plasma Massenspektrometer Perkin Elmer NexION 300 DInstrumenthttps://doi.org/10.15480/882.1379110.15480/882.13791