Schneider, Gerold A.Gerold A.Schneider113530839X0000-0001-5780-6249Mgbemere, Henry EkeneHenry EkeneMgbemere2012-08-142012-08-142012Cuvillier Verlag721136826http://tubdok.tub.tuhh.de/handle/11420/1076Die Struktur und Eigenschaften von (KxNa1-x) NbO3 bleifreier piezoelektrischer Keramiken wurde in dieser Arbeit untersucht. Sowohl die konventionellen Mischoxid-Keramik Syntheseweg und den Hochdurchsatz-Experimente (HTE) Ansätze wurden für die Synthese eingesetzt werden. Strukturelle Charakterisierung wurde mit Synchrotron-Röntgenstrahlen durchgeführt, während die elektrischen Eigenschaften mit Techniken (dielektrische Messungen, Hysterese-Messungen, Impedanzmessungen usw.) gekennzeichnet wurden. Sowohl isovalenten und aliovalente Elemente zu dotieren (KxNa1-x) NbO3 Keramik verwendet, um die piezoelektrischen Eigenschaften und Sinterfähigkeit verbessern.The structure and properties of (KxNa1-x)NbO3 lead-free piezoelectric ceramics was investigated in this work. Both the conventional mixed-oxide ceramics synthesis route and the high-throughput experimentation (HTE) approaches were employed for the synthesis. Structural characterization was carried out with synchrotron X-rays while the electrical properties were characterized with techniques (dielectric measurement, hysteresis measurements, impedance measurements etc). Both isovalent and aliovalent elements were used to dope(KxNa1-x)NbO3 ceramics in order to improve its piezoelectric properties and sinterability.enhttp://doku.b.tu-harburg.de/doku/lic_mit_pod.phpCeramic processingPiezeoelectric ceramicsactuatorssynchrotron x-rayshigh-throughput experimentationIngenieurwissenschaftenInvestigation of the structure and properties of (KxNa1-x)NbO3-based piezoelectric ceramics using both conventional and high-throughput experimentation (HTE) methodsUntersuchung der Struktur und Eigenschaften von (KxNa1-x)NbO3-basierte piezoelektrische Keramiken mit konventionelle und Hoch-durchsatz synthese MethodenDoctoral Thesisurn:nbn:de:gbv:830-tubdok-1171210.15480/882.1074KeramikherstellungPiezokeramikSynchrotronstrahlungAktorHigh throughput screeningX-ray diffraction in crystal structureDielectric, piezoelectric, ferroelectric, and antiferroelectric materials (for nonlinear optical materials, see 42.70.Mp; for dielectric materials in electrochemistry, see 82.45.Un)Ceramics and refractories (including borides, carbides, hydrides, nitrides, oxides, and silicides) (for ceramics in electrochemistry, see 82.45.Yz)11420/107610.15480/882.1074930768714Other