Bahnsen, Fin HendrikFin HendrikBahnsenKlebe, VanessaVanessaKlebeFey, GörschwinGörschwinFey2021-01-132021-01-132020GI/GMM/ITG-Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2020)http://hdl.handle.net/11420/8423enEmulation of Neural Networks under HW FaultsConference PaperOther