Emulation of Neural Networks under HW Faults

Publikationstyp
Conference Paper
Date Issued
2020
Sprache
English
Author(s)
Bahnsen, Fin Hendrik
Klebe, Vanessa
Fey, Görschwin
Institut
Eingebettete Systeme E-13
TORE-URI
http://hdl.handle.net/11420/8423
Citation
GI/GMM/ITG-Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2020)
Contribution to Conference
GI/GMM/ITG-Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TUZ 2020)